高分辨率波前分析仪 PV 上海昊量光电设备有限公司

如果您对该产品感兴趣的话，可以
产品名称：高分辨率波前分析仪
产品型号：PV
产品展商：法国PV
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简单介绍

昊量光电提供的高分辨率波前分析仪是一款灵巧的、具有高性价比的光学设备，能够提供目前波前分析领域*高的分辨率与良好的动态范围。不同于传统的模拟波前传感器，高分辨率波前测量仪整合了*新的高分辨率波前传感器。我们提供的配套波前分析软件能够很快从任何高分辨率波前相机采集数据，进行波前获得、测量和分析等工作，是从自动获取到波前展示、分析和报告的有效工具，并提供2D和3D等多种界面。

产品描述

产品名称：高分辨率波前分析仪
所属类别：高分辨率波前分析仪
厂家名称：法国PhaseView公司
产品简介：

一台高分辨率波前分析仪=功率计+光束质量分析仪+波前测量仪+干涉测量仪！

产品特点

高空间分辨率，可测量的像素点数量仅受限于CCD分辨率
低级次与**次畸变的**波前图像
实时测量+位相和强度同时测量
光束质量因子M2一次性测量，无需额外附件，无需移动部件
动态范围宽，可达1500λ
适用波长范围宽，涵盖紫外、可见光、近红外、中远红外等波段
结构紧凑、使用轻便、性价比高

硬件指标

波长范围	350-1100nm
分辨率	500x500
有效孔径	5.4mm x 4mm
灵敏度	0.01λ
动态范围	1500λ

可根据客户需要，定制更高分辨率的器件以及适用于紫外波段、近红外与远红外的器件

软件功能

几种不同的波前分析仪之比较

传感器技术	传感器类型	优点	缺点
Anologue	Sharck-Hartmann Sensor (SHS)	l 较宽的波长范围 l 高灵敏度 l 对振动不敏感	l 分辨率较低 l 动态范围有限 l 需要**校准 l 灵敏度与动态范围的对应关系缺乏灵活性
	Lateral Shearing Interferometer (LSI)	l 具有SHS更高的分辨率 l 灵敏度与动态范围的对应关系具有灵活性 l 波前误差控制	l 比SHS硬件构成更复杂
	Curvature Wavefront Sensor (CWS)	l 比SHS或LSI具有更高的分辨率	l 比SHS与LSI具有更复杂的硬件构成 l 适用波长受限 l 带宽受限
Digital	Digital Wavefront Camera (DWC)	l 分辨率高 l 无特殊硬件 l 波长范围不授限制 l 性价比高	l 软件计算比较复杂

普通波前分析仪波前测试图像高分辨率波前分析仪波前测试图像

GetLase M2
可测量的光束强度参数： l 所采集图像的强度*大值 l 采集平面上的光斑长轴尺寸 l 采集平面上的光斑短轴尺寸 l 光斑圆度 l 椭圆长轴相对于三角基准的定位	可测量的光束传输参数： l X、Y方向光束质量因子M2 l X、Y方向4 sigma 束腰大小 l 测量平面与束腰平面的距离 l 瑞利长度 l 光束发散角
GetLase WM
二维与三维图像展示波前分布	泽尔尼克（Zernike）系数显示 l 泽尔尼克系数值 l 泽尔尼克系数直方图
GetWave
n 二维与三维波前图像显示 n 二维与三维强度图像显示 n 沿任意切面的波前与强度分布	泽尔尼克（Zernike）系数实时显示： l 泽尔尼克系数值 l 泽尔尼克系数直方图 l 泽尔尼克系数重构
n MTF, PSF, 斯太尔率 n 斜率、焦点、象差、彗差、球差分析 n **LOAs&HOAs测量	n 来自参考测量的残差波前 n 来自*佳拟合的残差波前

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