上海昊量光电设备有限公司
新增产品
|
公司简介
注册时间:
2011-01-10
联系人:
电话:
Email:
首页
公司简介
产品目录
公司新闻
技术文章
资料下载
成功案例
人才招聘
荣誉证书
联系我们
产品目录
图像采集卡
光学相干断层成像西系统
延迟线
磁力计
变形镜
多光谱软件
光束整形
光频梳
色度计
数字源表
参数分析仪
扫描台
补偿器
椭偏仪
热成像分析仪
收发器
滤光片
分束镜
插槽机架
复用器
当前位置:
首页
>
产品目录
>
材料分析设备
产品图片
产品名称/型号
产品简单介绍
近红外二区荧光高光谱成像系统
目前常见的分子影像技术如X-射线成像、断层扫描成像(CT)、磁共振成像(MRI)和超声成像(US)被用于对**等的医疗诊断,但这些方法具有较差的空间分辨率及其无法实现动态实时监测等缺点。近红外二区荧光高光谱成像系统,近红外二区荧光高光谱成像系统
若网站内容侵犯到您的权益,请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除